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    全功能型太陽能電池量子效率測試系統(tǒng)

    產(chǎn)品型號: SCS100
    品  牌: zolix
      價格電議,您可以向供應(yīng)商詢價得到該產(chǎn)品價格
    所 在 地: 北京通州區(qū)
    更新日期: 2024-07-04
    詳細(xì)信息
     
    SCS100全功能型太陽能電池量子效率測試系統(tǒng)
    系統(tǒng)功能
    適用電池:全系列太陽能電池
    光譜范圍:300-1100nm,可擴(kuò)展至1700nm
    可測量參數(shù):光譜響應(yīng)度、外量子效率、光子電子轉(zhuǎn)換效率、內(nèi)量子
    效率、反射率、透射率、積分短路電流密度、光束誘導(dǎo)電流、量子效
    率制圖、反射率制圖、光束誘導(dǎo)電流制圖可測樣品尺寸:156mmX156mm
    ■ 可測樣品模式:交、直流測試法、交、直流偏置光測試法
    系統(tǒng)特點(diǎn)
    1. 全光譜太陽光模擬,雙光源切換可選,高光強(qiáng)穩(wěn)定性
    系統(tǒng)采用符合*新IEC60904 標(biāo)準(zhǔn)的雙光源配置,采用氙燈和溴鎢燈來覆蓋太陽光譜的整個范圍。無論是氙燈還是溴鎢燈,都可以提供超高的光強(qiáng)穩(wěn)定性,從而保證系統(tǒng)測試結(jié)果的高重復(fù)性。當(dāng)不同的波段光譜測量時,選擇合適的光源波長與相匹配的標(biāo)準(zhǔn)探測器,可以*大限度的優(yōu)化太陽能電池量子效率的測試結(jié)果。
     

    1000s 的持續(xù)光強(qiáng)測試與局部放大圖
    測試光源:氙燈或溴鎢燈; 測試時間:1000s; 光源時間不穩(wěn)定度:<0.8%
     
    2. 高重復(fù)性測試結(jié)果
    系統(tǒng)從光源的穩(wěn)定性、單色儀的波長準(zhǔn)確性與重復(fù)性、特有的光路設(shè)計、樣品的加持、數(shù)據(jù)的采集方式上確保測試結(jié)果的高重復(fù)性。
     

    5 次每次間隔1 小時的測試結(jié)果與全波段重復(fù)性測試
     
    3. 窗口化軟件設(shè)計
    在系統(tǒng)軟件設(shè)計中,將實(shí)用的儀器控制部分匯總到一個界面,將實(shí)用的儀器參數(shù)設(shè)置部分匯總到另一個界面,從而*大限度的將控制操作簡化,實(shí)現(xiàn)一鍵運(yùn)行。
    儀器參數(shù)設(shè)置可以按照不同樣品的測試需求保存為獨(dú)立的配置文件并導(dǎo)出,從而實(shí)現(xiàn)快速還原與測試的功能,隨時調(diào)出原有保留的參數(shù)設(shè)置。同樣配置的不同系統(tǒng)之間也可以統(tǒng)一相互調(diào)用。
    系統(tǒng)軟件可以準(zhǔn)確得到理論積分電流密度值,并按照需求保存原始數(shù)據(jù),支持ASCIIExcel、XML 等多種格式數(shù)據(jù)導(dǎo)出。以便使用主流數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用,方便后續(xù)數(shù)據(jù)處理與分析。
    4. 快速Mapping功能
    快速Mapping 功能包括:
    1)量子效率Mapping 功能
    2)反射率Mapping 功能
    3)光束誘導(dǎo)電流(LBIC)功能
    該功能針對100mmX100mm 以上的較大面積的成品太陽能電池片,用戶可以從Mapping 功能獲得的數(shù)據(jù)中得到關(guān)于電池片的少子擴(kuò)散情況、電池片缺陷分布等信息。缺陷分布等信息
     

    上圖顯示6 寸單晶硅電池IQE mapping,樣品右上角IQE 數(shù)值明顯低于其他區(qū)域,因為那里有肉眼無法直接觀察到的缺陷
    上圖顯示單晶硅電池的反射率mapping,均勻度明顯不好,這顯示出酸洗過程中酸液有殘留,影響了整個電池的反射率均勻性
     
    上述Mapping 數(shù)據(jù)是在同一個電池片上用400nm650nm 950nm 三個波長做QE(LBIC) 掃描得到的。650nm 950nm 的掃描數(shù)據(jù)顯示電池具有良好的均勻性,但400nm 掃描數(shù)據(jù)上,我們發(fā)現(xiàn)電池邊緣有不均勻區(qū)域。
    不同的測試波長對樣品的穿透深度不同。藍(lán)光波長短,穿透深度淺,因此很容易將樣品制備過程中產(chǎn)生的表面裂痕等問題反映出來; 近紅外光波長相對較長,穿透深度更深,更加適用于擴(kuò)散長度的計算,從而能反映樣品材料內(nèi)部的缺陷等問題。
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