當(dāng)前位置:
北京卓立漢光儀器有限公司 >
產(chǎn)品中心 >
工業(yè)分析儀器 > 全晶圓半導(dǎo)體參數(shù)非接觸測(cè)試解決方案-zolix
全晶圓半導(dǎo)體參數(shù)非接觸測(cè)試解決方案-zolix
產(chǎn)品型號(hào): |
- |
品 牌: |
zolix |
價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 |
|
所 在 地: |
北京通州區(qū) |
更新日期: |
2024-07-11 |
全晶圓半導(dǎo)體參數(shù)非接觸測(cè)試解決方案
Full-wafer Noncontac Measuring Solutions forSemiconductor Parameters
基于我公司自主研發(fā)的激光自動(dòng)聚焦、自動(dòng)化顯微成像、寬場(chǎng)熒光成像、共焦光致發(fā)光光譜和共焦拉曼光譜等核心測(cè)試技術(shù)和模組,聯(lián)合白光干涉等其它 3D 測(cè)量技術(shù),根據(jù)客戶的需求靈活組合相應(yīng)的技術(shù)搭配,為客戶開(kāi)發(fā)定制化的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試解決方案,獲得從粗糙度、圖形尺寸和膜厚等幾何參數(shù),到位錯(cuò)、層錯(cuò)等缺陷,再到發(fā)光波長(zhǎng)、壽命、載流子濃度、組分和應(yīng)力等物理參數(shù)的綜合測(cè)量,實(shí)現(xiàn)無(wú)需任何前處理的全晶圓無(wú)損自動(dòng)化檢測(cè)。