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OmniES-Plasma 等離子體發(fā)射光譜測量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號: OmniES-Plasma 品 牌: zolix 價格電議,您可以向供應(yīng)商詢價得到該產(chǎn)品價格 所 在 地: 北京通州區(qū) 更新日期: 2024-07-04 詳細信息| 詢價留言OmniES-Plasma 等離子體發(fā)射光譜測量系統(tǒng)
● 該系統(tǒng)用于測量等離子體發(fā)射光譜測量,采用模塊化設(shè)計
● 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合
● 可精確定位測量空間位置(選配功能)
● 測量光譜范圍:200-2500nm或1μm-14μm
● 光譜分辨率:優(yōu)于0.05nm(@1200g/mm光柵)
● 波長準確度:優(yōu)于±0.2nm
● 波長重復(fù)性:優(yōu)于±0.1nm
● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動測量、
數(shù)據(jù)運算、保存及打印等功能OmniES-Blackbody 黑體輻射源光譜測量系統(tǒng)
● 該系統(tǒng)用于測量黑體輻射源的相對光譜或絕對光譜輻射度曲線,采用模塊化設(shè)計
● 采用光纖導(dǎo)光或空間光耦合
● 測量光譜范圍:200-2500nm或1μm-14μm
● 光譜分辨率:優(yōu)于0.05nm(@1200g/mm光柵)
● 波長準確度:優(yōu)于±0.2nm
● 波長重復(fù)性:優(yōu)于±0.1nm
● 光譜儀控制軟件包含濾光片輪自動控制功能、光譜曲線繪制功能、全自動測量、
數(shù)據(jù)運算、保存及打印等功能
OmniES-Laser 激光光源光譜測量系統(tǒng)
● 該系統(tǒng)用于測量激光光源的光譜曲線,采用模塊化設(shè)計
● 采用光纖導(dǎo)光、空間光耦合或積分球耦合
● 測量光譜范圍:200-2500nm或1μm-14μm
● 光譜分辨率:優(yōu)于0.05nm(@1200g/mm光柵)
● 波長準確度:優(yōu)于±0.2nm
● 波長重復(fù)性:優(yōu)于±0.1nm
● 光譜儀控制軟件包含、光譜曲線繪制功能、全自動測量、自動峰值顯示、自動光
譜帶寬顯示、保存及打印等功能 -
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