近日，中國計量大學(xué)光電學(xué)院徐時清教授團隊在低劑量柔性X射線成像技術(shù)領(lǐng)域取得重要進展，研究成果以“Dual heterogeneous interfaces enhance X-ray excited persistent luminescence for low-dose 3D imaging”為題發(fā)表在國際*名期刊Nature Communications (2024, 15: 1140)上，并被Nature Communications編輯選為Research Highlight重點推薦。中國計量大學(xué)為該論文*一單位，雷磊研究員為*一者，徐時清教授為通訊作者。
X射線成像技術(shù)具有高穿透特點，已被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)診斷、無損檢測和安檢等領(lǐng)域。與商用平板探測器相比，柔性X射線探測器能夠用于高度彎曲目標(biāo)物的三維成像，成為當(dāng)前研究熱點。稀土摻雜氟化物納米材料具有X射線激發(fā)多色余輝發(fā)光特征，適用于柔性X射線探測與延時三維(3D)成像應(yīng)用，且能夠避免實時X射線輻照產(chǎn)生的熒光信號干擾，但面臨高輻射劑量安全問題與成像技術(shù)復(fù)雜問題的挑戰(zhàn)，因此，開發(fā)高性能X射線激發(fā)稀土余輝發(fā)光（XEPL）材料成為當(dāng)前亟需解決的關(guān)鍵技術(shù)瓶頸。
團隊創(chuàng)新性地設(shè)計了雙異質(zhì)核殼界面，不僅能夠抑制激活離子到表面缺陷的能量傳遞過程，降低稀土激活離子無輻射弛豫幾率，還能夠有效降低界面Frenkel缺陷形成能，促進陷阱能級的形成并大幅增強余輝發(fā)光。與NaLuF4:Gd/Dy核納米晶相比，NaYF4@NaLuF4:Gd/Dy@NaYF4異質(zhì)核殼納米晶的XEPL增強了約40.9倍。這種雙異質(zhì)核殼結(jié)構(gòu)同樣能夠增強Pr, Er, Tm, Gd, Tb等激活離子的XEPL性能。
不同結(jié)構(gòu)Dy摻雜納米粒子的XEPL性質(zhì)對比
團隊還研制出基于Y@Lu/Gd/Tb@Y納米晶的柔性薄膜X射線探測器件，彎曲幅度接近180度，拉伸幅度大于200%, 在300-800 nm范圍內(nèi)的光透過率大于 90%。采用自主搭建的X射線成像系統(tǒng)，在調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)值為0.2時的空間分辨率約為17.1 LP mm-1，優(yōu)于多數(shù)報道的鹵化物鈣鈦礦(通常低于10 LP mm-1)，與商用CsI (Tl)閃爍體 (≈10 LP mm-1)。在無熱激勵且輻射劑量率為4.5 Gy s-1的條件下, 雙異質(zhì)核殼納米晶的延時X射線成像質(zhì)量明顯優(yōu)于核納米晶體系。進一步結(jié)合圖像重構(gòu)技術(shù)，實現(xiàn)了電子器件的三維成像。
X射線延時3D成像
關(guān)于此文章的更多細節(jié)請點擊以下原文鏈接：
https://doi.org/10.1038/s41467-024-45390-0
配置推薦
OmniFluo990穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀上配置X射線光源即可實現(xiàn)X射線激發(fā)稀土余輝發(fā)光（XEPL）測試，該系統(tǒng)主要特點如下：
1、滿足國標(biāo)《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)視防護標(biāo)準(zhǔn)》（GBZ115-2002）的要求的整機設(shè)計方案，為實驗安全護航。
2、提供光管控制，輻射表控制功能，無需實驗人員監(jiān)測，即可完成長時間的，復(fù)雜的實驗方案。
3、反射和透射式光譜測試可選，預(yù)留溫控臺和定制積分球空間，可實現(xiàn)變溫測試和輻射發(fā)光強度測試。
免責(zé)聲明
北京卓立漢光儀器有限公司公眾號所發(fā)布內(nèi)容（含圖片）來源于原作者提供或原文授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章版權(quán)、數(shù)據(jù)及所述觀點歸原作者原出處所有，北京卓立漢光儀器有限公司發(fā)布及轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息及用于網(wǎng)絡(luò)分享。
如果您認為本文存在侵權(quán)之處，請與我們聯(lián)系，會*一時間及時處理。我們力求數(shù)據(jù)嚴(yán)謹準(zhǔn)確， 如有任何疑問，敬請讀者不吝賜教。我們也熱忱歡迎您投稿并發(fā)表您的觀點和見解。
手機訪問
X射線成像技術(shù)具有高穿透特點，已被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)診斷、無損檢測和安檢等領(lǐng)域。與商用平板探測器相比，柔性X射線探測器能夠用于高度彎曲目標(biāo)物的三維成像，成為當(dāng)前研究熱點。稀土摻雜氟化物納米材料具有X射線激發(fā)多色余輝發(fā)光特征，適用于柔性X射線探測與延時三維(3D)成像應(yīng)用，且能夠避免實時X射線輻照產(chǎn)生的熒光信號干擾，但面臨高輻射劑量安全問題與成像技術(shù)復(fù)雜問題的挑戰(zhàn)，因此，開發(fā)高性能X射線激發(fā)稀土余輝發(fā)光（XEPL）材料成為當(dāng)前亟需解決的關(guān)鍵技術(shù)瓶頸。
團隊還研制出基于Y@Lu/Gd/Tb@Y納米晶的柔性薄膜X射線探測器件，彎曲幅度接近180度，拉伸幅度大于200%, 在300-800 nm范圍內(nèi)的光透過率大于 90%。采用自主搭建的X射線成像系統(tǒng)，在調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)值為0.2時的空間分辨率約為17.1 LP mm-1，優(yōu)于多數(shù)報道的鹵化物鈣鈦礦(通常低于10 LP mm-1)，與商用CsI (Tl)閃爍體 (≈10 LP mm-1)。在無熱激勵且輻射劑量率為4.5 Gy s-1的條件下, 雙異質(zhì)核殼納米晶的延時X射線成像質(zhì)量明顯優(yōu)于核納米晶體系。進一步結(jié)合圖像重構(gòu)技術(shù)，實現(xiàn)了電子器件的三維成像。
X射線延時3D成像關(guān)于此文章的更多細節(jié)請點擊以下原文鏈接：https://doi.org/10.1038/s41467-024-45390-0
