近日，廣西大學(xué)物理科學(xué)與工程技術(shù)學(xué)院林濤博士團(tuán)隊(duì)提出了一種新的常溫液相方法實(shí)現(xiàn)了零維無(wú)鉛類(lèi)鈣鈦礦單晶(Cs3Cu2X5 (X = Cl, I))的快速結(jié)晶。這一類(lèi)晶體被用于構(gòu)造高效的閃爍體，并用于實(shí)現(xiàn)X射線成像探測(cè)。

閃爍體材料在醫(yī)療診斷、核物理和安全檢測(cè)等領(lǐng)域中具有重要應(yīng)用。傳統(tǒng)閃爍體如碘化銫（CsI）和摻鈰釔鋁石榴石（LYSO）雖然性能優(yōu)異，但其合成條件苛刻，成本高昂。近年來(lái)，鉛基鈣鈦礦納米晶體（如CsPbX3）因其低成本、低溫合成性和優(yōu)異的光電性能被視為潛在替代材料。然而，鉛的毒性和材料本身的不穩(wěn)定性限制了其廣泛應(yīng)用。

針對(duì)上述挑戰(zhàn)，廣西大學(xué)物理科學(xué)與工程技術(shù)學(xué)院林濤博士團(tuán)隊(duì)研究人員探索采用采用無(wú)鉛的銅(I)鹵化物構(gòu)造新型閃爍體。與納米晶體相比，單晶銅(I)鹵化物單晶在結(jié)構(gòu)缺陷密度低、發(fā)光光子散射效應(yīng)小等方面具有顯著優(yōu)勢(shì)，這對(duì)實(shí)現(xiàn)低劑量高分辨率X射線成像至關(guān)重要。該工作以“Fast solution-phase growth of centimeter-sized Cs3Cu2X5 (X = Cl, I) single crystals for high-performance scintillators”為題發(fā)表在期刊Journal of Materials Chemistry C上。

研究團(tuán)隊(duì)分別采用了甲酸輔助的改進(jìn)溶液冷卻（STL）法和油酸輔助的逆溫度結(jié)晶（ITC）法來(lái)合成Cs3Cu2Cl5和Cs3Cu2I5單晶。通過(guò)精心選擇溶劑、添加劑和溫度控制策略，成功在24小時(shí)內(nèi)合成出厘米級(jí)的高質(zhì)量單晶。這些單晶在光學(xué)和閃爍性能方面表現(xiàn)優(yōu)異，尤其是在X射線成像測(cè)試中展現(xiàn)出高吸收效率和明亮的輻射發(fā)光（RL）。

圖1. (a) Cs3Cu2Cl5單晶和(b) Cs3Cu2I5單晶的合成過(guò)程。(c) Cs3Cu2Cl5單晶和(d) Cs3Cu2I5單晶形貌。在302 nm紫外光照射下(e) Cs3Cu2Cl5單晶和 (f) Cs3Cu2I5單晶照片。(g) Cs3Cu2Cl5-PMMA薄膜和(h) Cs3Cu2I5-PMMA薄膜外觀。302 nm紫外照射下(i) Cs3Cu2Cl5-PMMA薄膜和 (j) Cs3Cu2I5-PMMA薄膜熒光效果。

圖2. (a) Cs3Cu2Cl5、Cs3Cu2I5、CsPbBr3、硅（Si）和CsI(Tl)的吸收系數(shù)曲線與光子能量的關(guān)系。(b) Cs3Cu2Cl5、Cs3Cu2I5、CsPbBr3和CsI(Tl)在50 keV X射線下的衰減效率；(c) Cs3Cu2Cl5和(d) Cs3Cu2I5的光致發(fā)光（PL）光譜、放射光致發(fā)光（RL）光譜。(e) 連續(xù)X射線輻照的穩(wěn)定性。(f) 暴露于空氣后的穩(wěn)定性。

基于這些高性能單晶，研究團(tuán)隊(duì)成功制備了均勻的閃爍屏，空間分辨率高達(dá)6.5線對(duì)/毫米。研究結(jié)果顯示，Cs3Cu2Cl5和Cs3Cu2I5單晶有望成為新型低成本、高性能的綠色和藍(lán)色閃爍體，適用于實(shí)際X射線成像。該研究為快速合成適用于實(shí)際應(yīng)用的Cs3Cu2X5單晶提供了重要指導(dǎo)。

圖3. (a) X射線成像系統(tǒng)示意圖。 (b)、(c) 使用Cs3Cu2Cl5-PMMA薄膜和Cs3Cu2I5-PMMA作為閃爍體拍攝的X射線成像圖像。(d) X射線成像的空間分辨率測(cè)量結(jié)果 。

關(guān)于此文章的更多細(xì)節(jié)請(qǐng)查看原文鏈接：

DOI: 10.1039/d3tc03871h

配置推薦

文中X射線輻射發(fā)光（RL）數(shù)據(jù)采用卓立漢光公司的OmniFluo990穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀上配置X射線輻射發(fā)光樣品倉(cāng)測(cè)試得到。第二代X射線輻射發(fā)光樣品倉(cāng)具有以下特點(diǎn)：

·滿足國(guó)標(biāo)《低能射線裝置放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》（GBZ115-2023）的要求的整機(jī)設(shè)計(jì)方案，為實(shí)驗(yàn)安全護(hù)航。

·提供光管控制，輻射表控制功能，無(wú)需實(shí)驗(yàn)人員監(jiān)測(cè)，即可完成長(zhǎng)時(shí)間的，復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)方案。

·反射和透射式光譜測(cè)試可選，預(yù)留溫控臺(tái)和定制積分球空間，可實(shí)現(xiàn)變溫測(cè)試和輻射發(fā)光強(qiáng)度測(cè)試。    

OmniFluo990 & X 射線輻射發(fā)光樣品倉(cāng)

免責(zé)聲明

北京卓立漢光儀器有限公司公眾號(hào)所發(fā)布內(nèi)容（含圖片）來(lái)源于原作者提供或原文授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章版權(quán)、數(shù)據(jù)及所述觀點(diǎn)歸原作者原出處所有，北京卓立漢光儀器有限公司發(fā)布及轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息及用于網(wǎng)絡(luò)分享。

如果您認(rèn)為本文存在侵權(quán)之處，請(qǐng)與我們聯(lián)系，會(huì)*一時(shí)間及時(shí)處理。我們力求數(shù)據(jù)嚴(yán)謹(jǐn)準(zhǔn)確， 如有任何疑問(wèn)，敬請(qǐng)讀者不吝賜教。我們也熱忱歡迎您投稿并發(fā)表您的觀點(diǎn)和見(jiàn)解。