晶體硅太陽(yáng)電池目前主要包括單晶硅、多晶硅電池，其特點(diǎn)是性能穩(wěn)定、市場(chǎng)化工藝成熟，常規(guī)樣品尺寸為125mm或156mm的方形電池片。在晶體硅太陽(yáng)電池測(cè)試發(fā)展過(guò)程中，出現(xiàn)了許多嚴(yán)重的問(wèn)題，如碎片、電池片隱裂、表面污染、電極不良等，正是這些缺陷限制了電池的光電轉(zhuǎn)化效率和使用壽命。同時(shí)，由于沒(méi)有完善的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，晶體硅太陽(yáng)電池測(cè)試質(zhì)量也是參差不齊，一些缺陷片的存在直接影響到組件乃至光伏系統(tǒng)的穩(wěn)定性。因此，晶體硅太陽(yáng)電池需要有快速有效和準(zhǔn)確的定位檢驗(yàn)方法來(lái)檢驗(yàn)生產(chǎn)環(huán)節(jié)可能出現(xiàn)的問(wèn)題。
       卓立漢光Helios 光致發(fā)光影像測(cè)試系統(tǒng)可以快速測(cè)量晶體硅的絕對(duì)少子壽命，并同時(shí)得到表征材料缺陷分布的二維影像。在太陽(yáng)電池片生產(chǎn)流程中，這些信息可以用于進(jìn)料在線篩選和制程工藝監(jiān)控，從而使每一個(gè)制程都*優(yōu)化。通過(guò)測(cè)量校正過(guò)的光致發(fā)光影像，可以定量測(cè)量太陽(yáng)電池原材料的缺陷分布和雜質(zhì)含量水平。
       晶圓進(jìn)料篩選: Helios 光致發(fā)光影像測(cè)試系統(tǒng)在太陽(yáng)電池片生產(chǎn)線的進(jìn)料端測(cè)試每一片晶圓的少子壽命影像，得到產(chǎn)出電池片的光電轉(zhuǎn)化效率的預(yù)估值，依據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)晶圓進(jìn)行等級(jí)劃分，根據(jù)不同等級(jí)選擇對(duì)應(yīng)優(yōu)化工藝。
生產(chǎn)制程控制: Helios 光致發(fā)光影像測(cè)試系統(tǒng)是以一套設(shè)置為離線檢測(cè)模式的系統(tǒng)，對(duì)生產(chǎn)線上的各個(gè)關(guān)鍵工序進(jìn)行監(jiān)控。通過(guò)對(duì)比工序前和工序后電池片測(cè)量數(shù)據(jù)的區(qū)別，可以輔助優(yōu)化生產(chǎn)線工藝參數(shù)。對(duì)于新的生產(chǎn)線，投產(chǎn)前需要對(duì)工藝參數(shù)進(jìn)行調(diào)試。采用光致發(fā)光影像測(cè)試系統(tǒng)，可以大大縮短調(diào)試時(shí)間，實(shí)現(xiàn)快速投產(chǎn)。
損傷檢驗(yàn)檢測(cè): Helios 光致發(fā)光影像測(cè)試系統(tǒng)可檢測(cè)電池片在生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的損傷和隱裂。
晶體硅太陽(yáng)電池生產(chǎn)廠家通過(guò)使用Helios 光致發(fā)光影像測(cè)試系統(tǒng)可以達(dá)到以*低的生產(chǎn)成本來(lái)實(shí)現(xiàn)*大化產(chǎn)品電池的效率的目的。